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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了非易失性存儲器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗的方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)、快閃存儲器(Flash)以及內(nèi)嵌上述存儲器的集成電路.