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太陽(yáng)能電池用硅片厚度及總厚度變化測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 30869-2014
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 東方電氣集團(tuán)峨嵋半導(dǎo)體材料有限公司、有研半導(dǎo)體材料股份有限公司、樂(lè)山新天源太陽(yáng)能科技有限公司、青洋電子材料有限公司
發(fā)布日期: 2014-07-24
實(shí)施日期: 2015-02-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2017年11月30日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽(yáng)能電池用硅片(以下簡(jiǎn)稱硅片)厚度及總厚度變化的分立式和掃描式測(cè)量方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于符合 GB/T26071、GB/T29055規(guī)定尺寸的硅片的厚度及總厚度變化的測(cè)量,分立式測(cè)量方法適用于接觸式及非接觸式測(cè)量,掃描式測(cè)量方法只適用于非接觸式測(cè)量。在測(cè)量?jī)x器準(zhǔn)許的情況下,本標(biāo)準(zhǔn)也可用于其他規(guī)格硅片的厚度及總厚度變化的測(cè)量。

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