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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 5170.11-2008
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所
發(fā)布日期: 2008-06-16
實施日期: 2009-03-01
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更新日期: 2012年04月10日
內(nèi)容摘要

         GB/T5170的本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。 
         本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗所用的試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。 
         本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。

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