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納米技術(shù) 掃描電子顯微術(shù)測量納米顆粒粒度及形狀分布

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 43196-2023
替代情況：
發(fā)布單位： 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 北京海岸鴻蒙標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)技術(shù)有限責(zé)任公司、中國檢驗檢疫科學(xué)研究院、北京粉體技術(shù)協(xié)會
發(fā)布日期： 2023-09-07
實施日期： 2024-04-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2024年06月27日
內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了通過獲取和分析納米顆粒的掃描電子顯微鏡（SEM）圖像，從而確定納米顆粒粒度及形狀分布的方法。

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