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納米技術(shù) 納米光電顯示 量子點(diǎn)光轉(zhuǎn)換膜光學(xué)性能測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 42976-2023
替代情況:
發(fā)布單位: 國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 杭州英諾維科技有限公司、浙江大學(xué)、中國計(jì)量大學(xué)、廣州特種承壓設(shè)備檢測(cè)研究院等
發(fā)布日期: 2023-09-07
實(shí)施日期: 2024-04-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2023年10月27日
內(nèi)容摘要

本文件描述了量子點(diǎn)光轉(zhuǎn)換膜光學(xué)性能的測(cè)試方法,包括方法原理、儀器和設(shè)備、測(cè)試樣品、測(cè)試程序、數(shù)據(jù)處理、測(cè)試報(bào)告等。
本文件適用于液晶顯示器件用量子點(diǎn)光轉(zhuǎn)換膜光學(xué)性能的測(cè)量,其他類型光轉(zhuǎn)換膜光學(xué)性能的測(cè)量參照?qǐng)?zhí)行。

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