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光學(xué)功能薄膜 黃變的測量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: HG/T 5659-2019
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國兵器工業(yè)集團(tuán)第五三研究所、合肥樂凱科技產(chǎn)業(yè)有限公司
發(fā)布日期: 2019-12-24
實施日期: 2020-07-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2022年08月01日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)功能薄膜在模擬的太陽光或紫外光照射下的黃變測量方法。
本標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容包括:范圍、規(guī)范性引用文件、術(shù)語和定義、測量原理、測量設(shè)備及方法、試樣、環(huán)境條件、測量步驟、試驗結(jié)果、測試報告。

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