本標(biāo)準(zhǔn)為首次發(fā)布。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬和非金屬多晶體材料的平均晶粒度、截距和晶粒面積分布的基本測量方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于等軸型和伸長型晶粒結(jié)構(gòu)的單一相和雙相系試樣。
本標(biāo)準(zhǔn)同樣適用于其他類似晶型結(jié)構(gòu)的物質(zhì)，如蜂窩結(jié)構(gòu)的物質(zhì)。
本標(biāo)準(zhǔn)需要使用半自動(dòng)或全自動(dòng)圖像分析儀器。
本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性試驗(yàn)方法，它不能確定受檢驗(yàn)材料是否接受或適合適用的范圍。
本標(biāo)準(zhǔn)未考慮與試驗(yàn)相關(guān)的所有安全問題。試驗(yàn)人應(yīng)自己負(fù)責(zé)與安全及健康相關(guān)的措施。 本標(biāo)準(zhǔn)等同采用美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)ＡＳＴＭ Ｅ１３８２：０４《用半自動(dòng)和自動(dòng)圖像分析法測量平均粒度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法》（英文版）。