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納米技術(shù) 硒化鎘量子點(diǎn)納米晶體表征 熒光發(fā)射光譜法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 36081-2018
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 國家納米科學(xué)中心、蘇州星爍納米科技有限公司、武漢大學(xué)、武漢珈源量子點(diǎn)技術(shù)開發(fā)有限責(zé)任公司
發(fā)布日期: 2018-03-15
實(shí)施日期: 2018-10-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2018年06月07日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硒化鎘量子點(diǎn)納米晶體的熒光發(fā)射光譜檢測的表征方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于硒化鎘量子點(diǎn)納米晶體的熒光發(fā)射光譜表征,其他納米材料的熒光發(fā)射光譜表征也可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

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