本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用原子力顯微術(shù)(Atomic force microscopy，簡稱AFM)測量納米顆粒高度來表征納米顆粒尺寸的方法。?本標(biāo)準(zhǔn)適用于分散在平整襯底表面上的納米顆粒測量。