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納米技術(shù) 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環(huán)形暗場法

標 準 號: GB/T 34831-2017
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 國家納米科學中心
發(fā)布日期: 2017-11-01
實施日期: 2018-05-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2018年05月28日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了采用電子顯微鏡高角環(huán)形暗場成像技術(shù)對貴金屬納米顆粒成像的方法。
本標準適用于單一貴金屬納米顆粒和復合材料中貴金屬納米顆粒的成像。
  

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