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本標準規(guī)定了采用電子顯微鏡高角環(huán)形暗場成像技術(shù)對貴金屬納米顆粒成像的方法。 本標準適用于單一貴金屬納米顆粒和復合材料中貴金屬納米顆粒的成像。