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表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 荷電控制與校正方法報(bào)告的規(guī)范要求

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 32998-2016
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)物理學(xué)院
發(fā)布日期: 2016-10-13
實(shí)施日期: 2017-09-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2017年07月30日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在電子激發(fā)絕緣樣品的俄歇電子能譜測量中,描述荷電控制方法所需的最少信息,該信息也一并報(bào)告在分析結(jié)果中。參見附錄A提供的現(xiàn)有的AES分析前或分析期間荷電控制的有用方法。表A.1對各種方法和途徑進(jìn)行了總結(jié),并依方法的簡單性排列。表A.1中的一些方法對大多數(shù)儀器是可用的,一部分則需要特殊的硬件,還有部分可能涉及樣品的重裝或變動(dòng)。

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