本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在電子激發(fā)絕緣樣品的俄歇電子能譜測量中，描述荷電控制方法所需的最少信息，該信息也一并報(bào)告在分析結(jié)果中。參見附錄A提供的現(xiàn)有的AES分析前或分析期間荷電控制的有用方法。表A.1對各種方法和途徑進(jìn)行了總結(jié)，并依方法的簡單性排列。表A.1中的一些方法對大多數(shù)儀器是可用的，一部分則需要特殊的硬件，還有部分可能涉及樣品的重裝或變動。