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半導體性單壁碳納米管的近紅外光致發(fā)光光譜表征方法

標 準 號: GB/T 29856-2013
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會
起草單位: 國家納米科學中心
發(fā)布日期: 2013-11-12
實施日期: 2014-04-15
點 擊 數(shù):
更新日期: 2015年07月16日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了近紅外光致發(fā)光光譜方法表征半導體性單壁碳納米管的原理的基礎(chǔ)上,規(guī)范了使用儀器、制樣方法、測量步驟、實驗數(shù)據(jù)處理及結(jié)果分析、不確定度影響因素分析和測試報告等內(nèi)容。
本標準適用于利用近紅外光致發(fā)光光譜方法表征半導體性單壁碳納米管手性指數(shù)和相對質(zhì)量濃度。

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